2012年6月13日
「半導体テスト技術」ロードマップ説明会参加者の皆様へ
九州工業大学 温先生より、説明会での質問等に関連して
下記資料の提供をいただきました。ご参考としていただきたく。
※ HPの造りの関係で容量的に一括でアップできません。
6分割で提供致します。
添付資料1,2,3で前半、残りデータは、
「半導体テスト技術」ロードマップ説明会の補足資料(2)に
添付致します。
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(温先生メール原文)
説明会では、
テスト関連の国際会議の情報がほしいという要望
があった他、その後の意見交換では低電力テストに
関する質問が多数ありました。
低電力テストに関しては、先月末フランスで開かれた
European Test Symposium 2012（４大テスト関連
国際会議の１つ）で招待講演を行いましたので、
そのときの発表資料を添付でお送り致します。ＬＳＩ
クラスターのメンバー企業の興味ある方に公開しても
問題がありませんので、良品ＬＳＩをテスト時に不良品
として落としてしまうという厄介な問題の解決策を
考える上の参考資料になれば幸いと思います。
添付資料1(PDF) 添付資料2(PDF) 添付資料3(PDF)
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