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2006/11/18:(中核)評価・テスト・解析技術(座学)

2006年12月5日

平成18年度「評価・テスト・解析技術」実証講座(座学)を
実施しました。

日 時:
 平成18年11月18日(土)9:00~16:00

内 容:
 半導体評価・テスト・解析の重要性、テスト設計、装置、
 及び構造解析(座学)

場 所:大分県産業科学技術センター
    (大分市高江西1-4361-10)

講 師:
 大分大学 教授 益子洋治 氏
 九州工業大学 助教授 温暁青 氏
 (株)エリア 筒井信明 氏

講座概要:
 ・半導体デバイスの評価・テスト・解析技術を
  より実践的に学ぶ。
 ・基本的なテスト設計の考え方を、製品規格を
  例として学ぶ。
 ・(実習)Excelワークブック環境でプログラミングできる
  実機テスタを使い、操作、テストプログラム等の理解を
  深める。

受講料:無料

受講者数:13名(定員12名)

※参考
・半導体テスト実習(募集:各コース4 名)
 半導体テスト技術の実習、及びデータ処理
 A コース:平成18年12月02日(土)
 B コース:平成18年12月09日(土)
 C コース:平成18年12月16日(土)

[問合先]
 (株)エリアLSI テストシステムラボラトリー(藤原ラボ)
 中核人材育成事業担当 小坂
 〒879-1502 大分県速見郡日出町大字藤原2421 番地
 TEL (0977)72-9967 FAX (0977)72-9968

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