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2007/12/1~12/22:半導体デバイスの評価・テスト・解析技術(座学・産学連携製造中核人材育成事業)

2007年12月28日

産学連携製造中核人材育成事業に係る平成19年度「半導体デバイスの評価・テスト・解析技術」実証講座(座学)を実施しました。

日時:
 平成19年12月1日(土)
 9:00~16:00

内容:
 半導体評価・テスト・解析の重要
 性、 テスト設計、装置、及び
 構造解析(座学)

場所:大分県産業科学技術センター
   (大分市高江西1-4361-10)

講師:
 大分大学教授 益子洋治氏
 九州工業大学 教授 温暁青氏
 (株)エリア 筒井信明氏

講座概要:
・半導体デバイスの評価・テスト・
 解析技術をより実践的に学ぶ。
・基本的なテスト設計の考え方を、
 製品規格を例として学ぶ。
・(実習)Excelワークブック環境で
 プログラミングできる実機テスタ
 を使い、操作、テストプログラム
 等の理解を深める。

受講料:無料

受講者数:11名(定員12名)

※参考
・半導体テスト実習
(募集:各コース4 名)
 半導体テスト技術の実習、及び
 データ処理
 Aコース:平成19年12月08日(土)
 Bコース:平成19年12月15日(土)
 Cコース:平成19年12月22日(土)

[問合先]
 (株)エリアLSI テストシステム
   ラボラトリー(藤原ラボ)
 中核人材育成事業担当 小坂
 〒879-1502 大分県速見郡日出町
       大字藤原2421 番地
 TEL (0977)72-9967
 FAX (0977)72-9968

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