2006年12月5日
平成18年度「評価・テスト・解析技術」実証講座（座学）を
実施しました。
日 時：
平成18年11月18日（土）9:00～16:00
内 容：
半導体評価･テスト･解析の重要性、テスト設計、装置、
及び構造解析（座学）
場 所：大分県産業科学技術センター
（大分市高江西1-4361-10）
講 師：
大分大学 教授 益子洋治 氏
九州工業大学 助教授 温暁青 氏
(株)エリア 筒井信明 氏
講座概要：
・半導体デバイスの評価・テスト・解析技術を
より実践的に学ぶ。
・基本的なテスト設計の考え方を、製品規格を
例として学ぶ。
・（実習）Excelワークブック環境でプログラミングできる
実機テスタを使い、操作、テストプログラム等の理解を
深める。
受講料：無料
受講者数：13名（定員12名）
※参考
・半導体テスト実習（募集：各コース4 名）
半導体テスト技術の実習、及びデータ処理
A コース：平成18年12月02日（土）
B コース：平成18年12月09日（土）
C コース：平成18年12月16日（土）
[問合先]
(株)エリアLSI テストシステムラボラトリー（藤原ラボ）
中核人材育成事業担当 小坂
〒879-1502 大分県速見郡日出町大字藤原2421 番地
TEL (0977)72-9967 FAX (0977)72-9968
