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2010/2/1:半導体テスト技術交流会開催

2010年2月2日

日時 平成22年2月1日(月)
   13:30~16:45
場所 全労済「ソレイユ」
   7F アイリス
テーマ1:
パーソナルテスターソリューションによるテスト開発/評価の効率化
講師:
エスティケイテクノロジー(株)
電気計測事業本部開発部
主任技術員 笹島 輝幸氏

テーマ2:
テスターの最新動向と
     テスト技術の進展
講師:
(株)東芝セミコンダクター社
システムLSI設計技術部
参事 小田代 佳哲氏

参加者 15社 55名

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