会員募集中

LSIテスティング技術関係知見収集報告

2010年3月23日

(添付資料1)
Ⅰ.LSIテスティングシンポジウム調査
・知見のテーマ(調査項目)
LSIのテスティング技術、設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テスト装置新技術、研究内容の調査、LSIテスティングシンポジューム参画企業の技術調査、テストデータ・評価データ解析方法の調査を実施した。
・実施した知見収集の方法
○LSIテスティングシンポジウム参加
 開催日:2009年11月11~13日
 場 所:大阪千里ライフサイエンスセンター
 担当者:株式会社エリア 仲町 茂

(添付資料2)
Ⅱ.MAP2009調査
・知見のテーマ(調査項目)
アジア半導体関連企業(その他の半導体企業も含む)の調査
・実施した知見収集の方法
MAP2009のシンポジュームに参加、アジア・九州の半導体企業・テスト関連企業の企業情報と技術情報を調査した。
 開催日:2009年11月11~13日
 場 所:福岡県シーホーク
 担当者:株式会社エリア 樋口 嘉

(添付資料3)
Ⅲ.SEMICON JAPN2009調査
・知見のテーマ(調査項目)
1.低コストテスト技術
2.LSIテスター最新動向 の調査
・実施した知見収集の方法
SEMICON JAPAN 2009へ参加
 開催日:2009年12月2~4日
 担当者:株式会社エリア 山田和秀
 場 所:幕張メッセ

(添付資料4)
Ⅳ.専門書籍の購入
・知見のテーマ(調査項目)
1.LSIテスティング技術
2.LSI故障解析
・実施した知見収集の方法
 以下専門書籍を購入した。
①LSIテスティングハンドブック
②LSI故障解析のすべて
                     以上
添付資料1(PDF) 添付資料2(PDF) 添付資料3(PDF) 添付資料4(PDF)

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